例如,Bio-Logic測試盒Test-box 3的CV曲線如圖1所示,采用PEIS技術(shù)測試的Nyquist阻抗圖如圖2所示。Test-box 3主要由兩個(gè)晶體管組成。它是金屬鈍化的模型[5-6]。圖2所示的Nyquist阻抗圖由兩個(gè)在頻率上分離開的電容弧組成。使用K-K轉(zhuǎn)換計(jì)算的阻抗ZKK如圖2所示。所有頻率下Z和ZKK圖都是相似的,因此阻抗測量是在因果的、穩(wěn)定的、線性的、定時(shí)的系統(tǒng)下進(jìn)行的。
圖1: Test-box 3的I vs. EWE穩(wěn)態(tài)曲線
圖2: Test-box 3 在圖1中a點(diǎn)對(duì)應(yīng)的PEIS測得的Nyquist圖(EWE = -0.35 V, Va = 10 mV, fmin = 0.2 Hz, fmax = 50 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)
使用K-K轉(zhuǎn)換計(jì)算的阻抗ZKK如圖3所示。這兩個(gè)阻抗圖不同,表明阻抗測量是在非線性條件下進(jìn)行的。
圖3: Test-box 3,PEIS測得的Nyquist圖(EWE = -0.35 V, Va = 375 mV, fmin = 0.2 Hz, fmax = 50 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)
我們假設(shè),由于某種原因,Nyquist圖是在有限的頻率范圍內(nèi)測量的(圖4)。
圖4: 有限范圍頻率值下的截?cái)嘧杩箞D(EWE = -0.35 V, Va = 10 mV, fmin = 10 Hz, fmax = 50 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖5所示的理論阻抗顯示了截?cái)鄬?shí)驗(yàn)阻抗圖的有效性。
圖6是采用PEIS技術(shù)測試Bio-Logic測試盒Test-box 3 在圖1中b點(diǎn)(即在電位控制(PC)下)的Nyquist阻抗圖。圖6所示的Nyquist阻抗圖仍然由兩個(gè)電容弧組成,根據(jù)鐘形穩(wěn)態(tài)曲線,兩個(gè)電容弧在頻率上分離開,低頻時(shí)阻抗的實(shí)部為負(fù)值。
圖6: Test-box 3,PEIS在圖1的b點(diǎn)測得的Nyquist圖(EWE = 1.35 V, Va = 10 mV, fmin = 1 Hz, fmax = 100 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖7: 恒電位控制下標(biāo)量線性系統(tǒng)的研究簡圖
圖8: Test-box 3,PEIS測得的Nyquist圖(EWE = 1.35 V, Va = 10 mV, fmin = 1 Hz, fmax = 100 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖9: 由圖8所示的導(dǎo)納圖反演得到Z(藍(lán)色標(biāo)記)和ZKK(紅色曲線)阻抗圖
圖10: 使用PEIS技術(shù)在H2SO4介質(zhì)中獲得的鎳電極Nyquist圖(EWE = 0.9 V, Va = 12.5 mV, fmin = 50 mHz, fmax = 10 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖11顯示了Y導(dǎo)納圖和YKK導(dǎo)納圖之間的良好一致性,以及鎳電極在酸性介質(zhì)中測量阻抗的一致性。導(dǎo)納圖之間的偏移是由于f→∞的阻抗實(shí)部的測量誤差引起的。
圖11: 使用PEIS技術(shù)在H2SO4介質(zhì)中獲得的鎳電極Nyquist圖(EWE = 0.9 V, Va = 12.5 mV, fmin = 50 mHz, fmax = 10 kHz(藍(lán)線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)